Effectuality of frequency dependent dielectric characterization of (N:DLC) film deposition between the metal-semiconductor interface

URGUN Nuray , TAN SERHAT ORKUN , FEIZOLLAHI VAHID Aylar , AVAR BARIŞ , ALTINDAL ŞEMSETTİN

Physica B: Condensed Matter , Volume/Issue: 698 ,Pages:,2025

0

Number of cited

https://doi.org/10.1016/j.physb.2024.416753

Erişim Bağlantısı

yoksis

Erişim Bağlantısı
Abstract

Özet verisi bulunmamaktadır.

  • Kapsamı

    Uluslararası

  • Type

    Hakemli

  • Index info

    SCI-Expanded

  • Language

    İngilizce

  • Article Type

    Özgün Makale